┌────────────┬────────────┬───────────┐
│검증기관│A배터리 │ B배터리│
├────────────┼────────────┼───────────┤
│UL │배터리 위쪽 모서리의 눌 │비정상적 융착 돌기, 절│
││림 현상, 얇은 분리막 │연 테이프 미부착, 얇 │
│││은 분리막 │
├────────────┼────────────┼───────────┤
│엑스포넌트 │음극탭 부위 젤리롤(양극 │비정상적으로 높은 융착│
││재, 음극재, 분리막을 돌│ 돌기 때문에 절연 테 │
││돌 만 것) 모서리의 눌림 │이프와 분리막 파손│
││현상│ │
├────────────┼────────────┴───────────┤
│TUV 라인란드│스마트폰 제조 공정과 배터리 물류 시스템에서 배터│
││리 안전성 저해 요인 발견 못 해 │
└────────────┴────────────────────────┘
※ A는 삼성SDI, B는 중국 ATL로, 삼성전자와 검증기관들은 이들 협력사 실명을 밝히지 않음.
(서울=연합뉴스)
(끝)
<저작권자(c) 연합뉴스, 무단 전재-재배포 금지>