이차 방사선에 의한 재료분석 기술 특허출원 5배 증가
건강 진단에 대한 관심이 커지면서 이차 방사선에 의한 재료분석 기술의 국내 특허출원이 5년 전보다 5배 증가한 것으로 나타났다.
분석하려는 물질(시료)에 일차로 방사선을 비추면 물질은 일차 방사선 에너지의 일부를 흡수하며, 이때 이차적으로 방출되는 원소 특유의 방사선이 이차 방사선이다.
18일 특허청에 따르면 최근 5년간 이차 방사선에 의한 재료분석의 국내 특허출원은 총 150건이었다.
2011년 10건, 2012년 20건, 2013년 32건, 2014년 38건으로 해마다 꾸준히 늘어지난해는 50건에 달했다.
최근 종양의 진단, 예술품의 진위 판별, 용접 및 코팅의 품질 검사, 토양 오염물질 분석 등을 위한 재료분석 기술의 중요성이 부각되며, 이를 위한 장치와 분석방법 기술개발이 산업계와 학계에 계속 요구된다.
이를 반영해 이차 방사선에 의한 재료분석 기술의 국내 특허출원이 급증한 것으로 분석된다.
대표적인 이차 방사선 재료분석 기술로는 형광 X선을 이용한 분석 기술과 전자또는 이온빔을 이용한 분석 기술이다.
두 종류의 기술은 최근 5년간 특허출원된 이차 방사선 재료분석 기술의 88%를차지한다.
외국인보다 내국인 특허출원이 상대적으로 많은(61%, 150건 중 92건) 것으로 나타났다.
내국인 출원의 61%가 기업 출원으로, 기업이 이차 방사선 재료분석 기술 연구를주도했다.
기업 특허출원은 최근 5년간 10배나 증가했고, 대학·공공연구소의 출원은 같은기간 2배가량 늘었다.
특허청 관계자는 "이차 방사선에 의한 재료분석 기술의 활발한 특허출원은 다양한 분야에서 문제를 규명하고 예측하는 데 크게 기여할 수 있을 것"이라며 "꾸준한기술개발과 함께 전략적인 특허시장 선점이 필요하다"고 밝혔다.
yej@yna.co.kr(끝)<저 작 권 자(c)연 합 뉴 스. 무 단 전 재-재 배 포 금 지.>
뉴스
