특허청은 2017년 상반기 특허 및 상표 심사에서 심사 품질 향상을 위해 역량을 발휘한 최우수 심사관 5명을 선정했다고 2일 발표했다.최우수 심사관은 상표디자인심사국 김태형 심사관(사진), 특허심사기획국 양성연 심사관, 특허심사1국 하은주 심사관, 특허심사2국 문남두 심사관, 특허심사3국 정상익 심사관이다.
박근태 기자 kunta@hankyung.com
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