(울산=연합뉴스) 장영은 기자 = 울산과학기술원(UNIST)은 권순용 신소재공학부 교수팀과 김성엽 기계항공 및 원자력공학부 교수팀이 그래핀(Graphene)에 생긴 결함(defects)을 쉽게 찾는 기술을 개발, 그래핀 상용화에 기여할 전망이라고 29일 밝혔다.
UNIST 연구진이 개발한 것은 구리(Cu) 기판에 성장시킨 그래핀 결함을 광학현미경과 전자현미경으로 간단히 찾아내는 기술이다.
그래핀을 공기 중에서 열처리해 구리 기판을 산화시키는 방식인데, 이때 결함 있는 그래핀 아래쪽만 산화돼 붉은 '녹' 자국이 생기기 때문에 현미경으로 살피면 그래핀 결함을 쉽게 알 수 있다.
탄소 원자 한 층의 얇은 물질인 그래핀은 강철보다 단단하고 열이나 전기를 잘 전달한다. 유연한 성질이 있어 투명전극, 에너지용 전극, 차세대 반도체 등에 쓰일 꿈의 신소재로도 불린다.
그러나 큰 면적의 그래핀을 제작하는 과정에서 생기는 결함 때문에 상용화가 어려웠다.
기존에도 그래핀 결함을 찾아내는 기술은 있었다.
그래핀 위에 액정(LCD)을 코팅하거나, 자외선(UV)을 쪼여 달라진 부분을 확인하는 방식이었다.
그러나 이들 기술은 다른 물질이나 장비가 필요한 데다 복잡하다는 단점이 있었다.
권 교수는 "앞으로 구리 기반 전자소자 연결 소재 영역에서 그래핀을 도입할 발판을 마련했다"며 "고품질 그래핀 시트(sheet)를 기반으로 다양한 차세대 전자소자에 그래핀을 적용하는 연구가 가속화될 것"이라고 말했다.
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