한국기계연구원은 17일 경기 과천시 산업통상자원부 기술표준원 대강당에서 열린 세계 표준의 날 기념식'에서 나노융합기계연구본부 이학주 박사가 나노측정 분야 원천기술 개발 및 국제표준화에 기여한 공로로 산업포장을 수상했다고 밝혔다.
이 박사는 기계구조물의 물성 및 피로강도 평가, 나노측정 및 공정 분야 등에서원천기술을 개발해 국제표준을 제안하고 특허를 출원·등록해 국가경쟁력 향상에 이바지한 공로를 인정받았다.
나노측정 기술은 나노 크기 소재의 기계적·전자기적·광학 물성 등을 측정하고평가하는 기술로, 나노공정 기술을 실제 제품 생산에 적용할 때 필수적인 기술이다.
이 박사팀이 개발한 나노측정 기술 '띠굽힘시험법'은 길이가 길고 두께가 얇은마이크로·나노 구조물을 변형시켜 하중을 간편하게 측정하는 방법으로, 측정의 자동화와 관련 제품의 신뢰성을 높이는데 기여할 것으로 기대된다.
이 기술은 세계 3대 국제표준기구 중 하나인 국제전기기술위원회(IEC) 미세전자기계시스템(MEMS, Micro Electro Mechanical System) 분야 국제표준 기술로 채택됐다.
jyoung@yna.co.kr(끝)<저 작 권 자(c)연 합 뉴 스. 무 단 전 재-재 배 포 금 지.>
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